Search
Directions

Microtechpro

Overview
Products and services
News
3
Photos
6
Reviews
Features
Восстановление запчастей ФИБ СЭМ
Расходные материалы для электронной микроскопии
Восстановление запчастей ФИБ СЭМ
Заправка галлиевых источников ЛМИС
Мы используем изотопно чистый, галлий для заправки источников ионов жидкого металла 69Ga (LMIS). подходит для использования в системах FIB и FIB-SEM с колонками FEI Zeiss Jeol HITACHI
400000 ₽1 pcs.
Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
900000 ₽1 pcs.
Расходные материалы для электронной микроскопии
Катод Шоттки Denka TFE 174C
Катод для электронных микроскопов Zeiss, FEI, Jeol, Tescan, Hitachi.
1190000 ₽1 pcs.
Катод Шоттки (полевой) YPS-174
Катод Шоттки (полевой) YPS-174 (аналог Denka TFE 174C) для Hitachi, JEOL, ZEISS/LEO, FEI, PHI
990000 ₽1 pcs.
Hasn't been updated for a while. Source: Representative of the organization